2024兒科主治高頻考點(diǎn):能力測(cè)驗(yàn)內(nèi)容

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        能力測(cè)驗(yàn)包括篩查測(cè)驗(yàn)和診斷測(cè)驗(yàn)。

        1.篩查測(cè)驗(yàn)
        （1）丹佛發(fā)育篩查法（DDST）：主要用于＜6歲的兒童發(fā)育篩查，實(shí)際應(yīng)用時(shí)對(duì)＜4.5歲的兒童較為適用。
        （2）繪人測(cè)試：適用于5～9.5歲兒童。
        （3）圖片詞匯測(cè)試（PPVT）：適用于4～9歲兒童的一般[醫(yī)學(xué)教育網(wǎng)原創(chuàng)]智能篩查。

        2.診斷測(cè)驗(yàn)
        （1）Gesell發(fā)育量表：適用于4周～3歲的嬰幼兒。結(jié)果以發(fā)育商（DQ）表示。
        （2）Bayley嬰兒發(fā)育量表：適用于2～30個(gè)月嬰幼兒。
        （3）Standford-Binet智能量表：適用于2～18歲兒童。
        （4）Wechsler學(xué)前及初兒童童智能量表（WPPSI）：適用于4～6.5歲兒童。（5）Wechsler兒童智能量表修訂版（WISC-R）：適用于6～16歲兒童。本題問(wèn)診斷測(cè)驗(yàn)，診斷測(cè)驗(yàn)中能用于2個(gè)月以下的只有Gesell發(fā)育量表。
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